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M方分析仪
    发布时间: 2020-03-27 10:31    
M方分析仪

M方分析系统

 

产品特色:

·满足所有ISO规格精度

·波段范围覆盖紫外到2.7um                                

·适用性强,针对脉冲和连续激光器有不同的产品

·可测高达4KW的高功率产品

·可拆卸的测量单元,单独可用

·值精度: ±5%













产品应用:

·光束传输(M方因子)

·光斑束腰位置

·光斑束腰直径

·发散角

·瑞利范围

·束腰不对称性

·散光




 

M2Beam

M2Beam U3(新品)

技术

多刀口扫描式,探测器类型:

silicone  detector, ingaAs detector ,enhanced ingaAs

2.4百万像素CMOS相机,内置滤光轮,USB3.0接口

光谱范围(nm

UV-  Enhanced190-1100

Si350-1100

InGaAs800-1800

Enhanced  InGaAs800-2700

VIS-NIR: 350-1600 
特殊
CMOS技术:

220-1350nm

光斑功率范围

Si:100uW-1W内置滤光片

InGaAs  & UV:100uW-5mW

高功率版本:4KW

10uW-100mW内置滤光轮

高功率版本:4KW

刀口数:

7

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光斑尺寸

最大可测25mm直径with lens (Si&UV versions)

束腰到透镜的距离

2.0-2.5m最佳

最小2.0

 


扫描部件装配:

结构

Aluminium

透镜焦距

300mm632.6nm

透镜直径

25mm

扫描步数

140

最小步长

100um

扫描长度

280mm


 

物理尺寸:

重量

2.5Kg

尺寸

100 x  173 x 415 mm

安装孔

M6 or  ¼” screws

机械调整范围

Horizontal  angle: ±1.5°

Vertical  angle: ±1.5°

线长

2.5m

 

产品内部结构图:


订购信息:

M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)

M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)

M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)

M2Beam-U3 - measurement device for 220-1350 nm CMOS based SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams


发散角测量仪(FocusGage)

型号:FG-Si,FG-UV,FG-InGaAs 3mm,FG-InGaAs 5mm
功能:测量连续激光器和激光二极管的光束参数
测量:发散角,焦深,焦距,数值孔径,束腰尺寸,束腰位置
关键词:FocusGage发散角测量仪,发散角测量系统,焦深测量系统,Duma Optronics光束质量分析仪,FocusGage Analyzer


FocusGage

光谱范围 &探测器类型

400-1100nm for Si

190-1100nm for UV Enhanced

800-1800nm for InGaAs

光功率范围

100μW-1W with filters for Si

100μW-5mW for UV & InGaAs

光斑尺寸

9mm Diameter, 12.7mm for Elliptical Beams for Si & UV

3mm & 5mm Diameter for InGaAs

设备尺寸

415×173×100mm for Scanning

248×215×122mm for Controller

安装

M6 or 1/4'' Screws

机械调节

Horizontal angle ±1.5°

Vertical angle ±1.5°

聚焦深度精度

±50μm

分辨率

Down to 10μm

订购型号

FG-Si (FocusGage Si version)

FG-UV (FocusGage UV Enhanced version)

FG-InGaAs 3mm (FocusGage InGaAs 3mm)

FG-InGaAs 5mm (FocusGage InGaAs 5mm)